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X射线衍射仪（X-ray diffractometer，简称XRD）是目前研究晶体结构最有力的方法之一。XRD特别适用于晶态物质的物相分析，通过检查样品的X射线衍射图以及与已知的晶态物质的X射线衍射图谱的对比，可完成对样品物相组成和结构的定性鉴定。通过对样品衍射强度等数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。
XRD还可测定材料中晶粒的大小及排布取向、材料中的应力测量、摇摆曲线、倒易空间图、结晶度、晶胞参数的精确测定等。
| 项目 | 规格参数 |
|---|---|
| 外观尺寸 | 1300（宽）×1880（高）×1300（深）mm |
| X射线光管 | 功率 2.2kW，电压 10 – 60kV，电流 0 – 50mA |
| 靶材 – Cu，阳极接地，铍窗 – 300μm | |
| 电子束焦斑：0.4×1.2mm | |
| 水冷：最小流速 3.5l/min，最大水压 490kPa，压降 98kPa | |
| 高压电源 | 输入：电压 230Vac – 10%，one phase，电流 33A |
| 输出：电压 0 – 60kV，电流 0 – 80mA | |
| 稳定性：预热 1 小时候，8 小时内电压和电流变化 < 0.01% | |
| 纹波：在 1kHz 以下，0.03% rms；在 1kHz 以上，0.75% rms | |
| 测角仪 | 类型：垂直放置测角仪 |
| 角度范围：-110°~ +168° | |
| 角度定位：步进电机 + 光学编码器 | |
| 最小步长 0.0001°，定位精度 < 0.0005° |
| 项目 | 规格参数 |
|---|---|
| 探测器 | 类型：光子计数器探测器 (2D) |
| 有效面积：77.1×38.4 = 2961mm2 | |
| 像素大小：75×75μm | |
| 尺寸：100×140×93mm3 | |
| 样品台 | 标准样品台：Rx，Ry，Z，Phi |
| XYZ 运动平台 (可选)：X，Y，Z | |
| 毛细管样品台 (可选)：X，Y，Phi | |
| 五轴样品台 (可选)：X，Y，Z，Phi，Chi | |
| Non – ambient 样品台 (可选) | |
| 光学元件 | 可变狭缝：0.05 – 10mm |
| Soller 狭缝：0.5°、0.2°、0.1°、0.05°、0.02° | |
| Goebel 镜：发散度 0.03°，f1 = 100mm，单色性 Kα | |
| 双晶单色器：Ge220×2 |
