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X射线衍射仪（XRD）

X射线衍射仪（X-ray diffractometer，简称XRD）是目前研究晶体结构最有力的方法之一。XRD特别适用于晶态物质的物相分析，通过检查样品的X射线衍射图以及与已知的晶态物质的X射线衍射图谱的对比，可完成对样品物相组成和结构的定性鉴定。通过对样品衍射强度等数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。

XRD还可测定材料中晶粒的大小及排布取向、材料中的应力测量、摇摆曲线、倒易空间图、结晶度、晶胞参数的精确测定等。

技术规格

项目	规格参数
外观尺寸	1300（宽）×1880（高）×1300（深）mm
X射线光管	功率 2.2kW，电压 10 – 60kV，电流 0 – 50mA
	靶材 – Cu，阳极接地，铍窗 – 300μm
	电子束焦斑：0.4×1.2mm
	水冷：最小流速 3.5l/min，最大水压 490kPa，压降 98kPa
高压电源	输入：电压 230Vac – 10%，one phase，电流 33A
	输出：电压 0 – 60kV，电流 0 – 80mA
	稳定性：预热 1 小时候，8 小时内电压和电流变化 < 0.01%
	纹波：在 1kHz 以下，0.03% rms；在 1kHz 以上，0.75% rms
测角仪	类型：垂直放置测角仪
	角度范围：-110°~ +168°
	角度定位：步进电机 + 光学编码器
	最小步长 0.0001°，定位精度 < 0.0005°

项目	规格参数
探测器	类型：光子计数器探测器 (2D)
	有效面积：77.1×38.4 = 2961mm²
	像素大小：75×75μm
	尺寸：100×140×93mm³
样品台	标准样品台：Rx，Ry，Z，Phi
	XYZ 运动平台 (可选)：X，Y，Z
	毛细管样品台 (可选)：X，Y，Phi
	五轴样品台 (可选)：X，Y，Z，Phi，Chi
	Non – ambient 样品台 (可选)
光学元件	可变狭缝：0.05 – 10mm
	Soller 狭缝：0.5°、0.2°、0.1°、0.05°、0.02°
	Goebel 镜：发散度 0.03°，f1 = 100mm，单色性 Kα
	双晶单色器：Ge220×2

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